SPM ve AFM Mikroskobu

Taramalı Uç Mikroskobu Sistemleri Hakkında Bilgilendirme

Bruker Dimension Edge AFM/SPM sistemi

Tanım

Taramalı Uç Mikroskobu (SPM), Taramalı Tünelleme Mikroskobu (STM) ve Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) tekniklerini içeren yüksek çözünürlüklü görüntüleme yöntemlerini kapsar. Bruker Dimension Edge SPM, iletken, yarı iletken ve yalıtkan örnekleri hem hava hem de sıvı ortamda analiz edebilir.

STM ve AFM Arasındaki Farklar

STM yalnızca iletken/yarı iletken örneklerin yüzey yapısını görüntüleyebilirken, AFM iletken ve yalıtkan örnekleri de görüntüleyebilir ve yüzey topografisini yüksek hassasiyetle haritalandırabilir.

Çalışma Modları

• Contact Mode: Prob ucu yüzey ile sürekli temas halindedir.
• Non-Contact Mode: Prob yüzeye temas etmeden atomlar arası kuvvetleri algılar.
• Tapping Mode: Prob, yüzeye kontrollü bir şekilde periyodik olarak dokunarak ölçüm yapar.

Gerçekleştirilebilen Analizler

• Yüzey morfolojisi ve topografi analizleri
• Kaplama/film kalınlığı ölçümü
• Yüzey pürüzlülüğü (roughness) belirleme
• Yüzey adezyon haritası ve faz haritası çıkarma
• Nanoindentasyon ile sertlik ve elastikiyet belirleme
• Bölgesel mekanik özellik haritalama
• Elektriksel iletkenlik ve manyetik alan görüntüleme
• Sıvı ortamda örnek (örneğin hücre) inceleme